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MIC SAS II 全自动亚筛分粒径分析仪
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麦奇克 Aerotrac II 喷雾粒度分析仪
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CAMECA二次离子质谱仪IMS Wf和SC Ultra
可充分满足高级半导体对动态SIMS测量日益增长的需求该仪器可提供大范围的冲击能量(150 eV到13 keV),不影响质量分辨率和一次离子束密度,可确保在高通量条件下为具挑战性的应用提供卓越的分析性能
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SKAPHIA适用于放射性样品的带屏蔽功能的电子探针显微分析仪
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CAMECA KLEORA地质年代研究专用离子探针
KLEORA在新一代超高灵敏度大尺寸几何结构IMS 1300-HR³离子探针基础上开发而成,在高通量、易于使用的平台上为原位U-Th-Pb同位素分析提供基准灵敏度。
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CAMECA ACTINIS - 带屏蔽功能的IMS
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CAMECA二次离子质谱IMS 7F-GEO
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麦奇克 Nanotrac wave II纳米粒度及Zeta电位仪
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门积分平均器Boxcar
在重复的脉冲信号情况下,用于时间分辨的信号探测以及低信噪比脉冲信号还原最短采样门宽2ns(SR250)/100ps(SR255),触发频率高达50kHz,平均采样率可到10,000 次。并有模拟和数
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Colloid Metrix NANO-flex II纳米粒度分析仪-180°(DLS)
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